Μετάβαση στο περιεχόμενο
Ωκεανός
Υπηρεσία Ενοποιημένης Αναζήτησης
του Πανεπιστημίου Πειραιώς
Σύνθετη
  • 0 τεκμήρια
  • Γλώσσα
    • English
    • Ελληνικά
Σύνθετη
  • Αναζήτηση: "Frontiers in electronic testing."
Προτεινόμενα θέματα σχετικά με την αναζήτησή σας.
Testing 14 Integrated circuits 8 Very large scale integration 4
Digital integrated circuits 3 Systems on a chip 3 Electronic apparatus and appliances 2
περισσότερα ...
Plug and play (Computer architecture) 2 Semiconductor storage devices 2 Semiconductors 2
Appareils electroniques 1 Automatic test equipment 1 Boundary scan testing 1
Computer simulation 1 Computer storage devices 1 Computer-aided design 1
Data mining 1 Defauts electriques 1 Design and construction 1
Digital circuits 1 Electric contacts 1 Electric fault location 1
Electronic packaging 1 Embedded computer systems 1 Error analysis (Mathematics) 1
Essais 1 Failures 1 Fault location (Engineering) 1
Fault tolerance 1 Field programmable gate arrays 1 Hardware description language 1
λιγότερα ...
Εμφανίζονται 1 - 17 από 17 για την αναζήτηση: '"Frontiers in electronic testing."', χρόνος αναζήτησης: 0,25δλ
Εξώφυλλο
Essentials of electronic testing for digital, menory and mixed-signal VLSI circuits /
από Bushnell, Michael L. 1950-
Στοιχεία έκδοσης 2000
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Testability concepts for digital ICs : The Makro Test Approach /
από Beenker, F.P.M.
Στοιχεία έκδοσης 1995
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Introduction to IDDQ testing /
Στοιχεία έκδοσης 1997
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Research perspectives and case studies in system test and diagnosis /
από Sheppard, John W., 1961-
Στοιχεία έκδοσης 1998
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Boundary scan interconnect diagnosis /
από Sousa, Jose T. de.
Στοιχεία έκδοσης 2001
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Test resource partitioning for system- on- a- chip /
Στοιχεία έκδοσης 2002
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
SOC (System-on-a-Chip) testing for plug and play test automation /
Στοιχεία έκδοσης 2002
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
High peformance memory testing : Design Principles, Fault Modeling and Self - Test /
από Adams, R. Dean.
Στοιχεία έκδοσης 2003
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Power-constrained testing of VLSI circuits/
από Nicolici, Nicola.
Στοιχεία έκδοσης 2003
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Fault injection techniques and tools for embedded systems reliability evaluation /
Στοιχεία έκδοσης 2003
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Elements of STIL : Principles and Applications of IEEE Std. 1450 /
από Maston, Gregory A.
Στοιχεία έκδοσης 2003
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Verification by error modeling : using testing techniques in hardware verification /
από Radecka, Katarzyna.
Στοιχεία έκδοσης 2003
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Testing static random access memories : defects, fault models and test patterns /
από Hamdioui, Said.
Στοιχεία έκδοσης 2004
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization /
από Larsson, Erik, 1966-
Στοιχεία έκδοσης 2005
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Fault-tolerance techniques for SRAM-based FPGAs /
από Kastensmidt, Fernanda Lima.
Στοιχεία έκδοσης 2006
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Data mining and diagnosing IC fails /
από Huisman, Leendert M.
Στοιχεία έκδοσης 2005
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εξώφυλλο
Emerging nanotechnologies : test, defect tolerance, and reliability /
Στοιχεία έκδοσης 2008
“...Frontiers in electronic testing ;...”
Ταξινομικός #: Φορτώνει......
Βρίσκεται σε: Φορτώνει......
Βιβλίο Φορτώνει......
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Προεπισκόπηση
Εμφάνιση κώδικα QR

Στα αγαπημένα
Αποθηκεύτηκε σε:
Εργαλεία αναζήτησης: Λήψη RSS — Αποστολή αναζήτησης με email — Αποθήκευση αναζήτησης

Περιορισμός αναζήτησης

Συλλογή
17 Κατάλογος Βιβλιοθήκης
Μορφή
17 Book
Συγγραφέας
1 Adams, R. Dean 1 Beenker, F.P.M. 1 Bushnell, Michael L. 1950- 1 Hamdioui, Said 1 Huisman, Leendert M. 1 Kastensmidt, Fernanda Lima περισσότερα ... 1 Larsson, Erik, 1966- 1 Maston, Gregory A. 1 Nicolici, Nicola 1 Radecka, Katarzyna 1 Sheppard, John W., 1961- 1 Sousa, Jose T. de λιγότερα ...
Ταξινομικός #
15 600 - Technology 2 000 - Computer science, information & general works
Γλώσσα
17 English
Είδος
1 Standards 1 v.37
Έτος έκδοσης

Επιλογές αναζήτησης

  • Ιστορικό αναζητήσεων
  • Σύνθετη αναζήτηση

Βρείτε περισσότερα

  • Περιήγηση στον κατάλογο
  • Περιήγηση αλφαβητικά

Χρειάζεστε βοήθεια;

  • Συμβουλές αναζήτησης
Library of UniPi
Βιβλιοθήκη Πανεπιστημίου Πειραιώς
Ιστοσελίδα της Βιβλιοθήκης
Επικοινωνήστε μαζί μας
H Υπηρεσία Ενοποιημένης Αναζήτησης δημιουργήθηκε στο πλαίσιο του Υποέργου 4 «Προμήθειες Εξοπλισμού Λογισμικού» της πράξης «Ψηφιακές υπηρεσίες ανοιχτής πρόσβασης της βιβλιοθήκης του Πανεπιστημίου Πειραιώς» με κωδικό ΟΠΣ «304169», του Επιχειρησιακού Προγράμματος "Ψηφιακή Σύγκλιση"

Φορτώνει......